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设计质量分离器和离子阱的工艺,制造质量离子阱和分离器的方法,质量分离器、离子阱,以及分析样品的方法

摘要

在一个实施例中,提供了用于从一系列质量分离器电场数据设计质量分离器的工艺和用于从一定范围数据对设计离子阱的工艺是质量分析器标度。也提供了用于制造包括离子阱的质量分离器的方法,该离子阱具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率。也提供了质谱仪,其可包括级联的质量分离器,其中一个是具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率的离子阱。本发明也提供用于分析样品的方法,其使用具有第一组和第二组元件的质量分离器,该第一组和第二组元件限定一体积,其具有从体积中心到第一元件表面的距离对从体积中心到第二元件表面的距离的比率在0.84到1.2。

著录项

  • 公开/公告号CN1735957A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格里菲分析技术公司;

    申请/专利号CN200380108292.0

  • 申请日2003-12-02

  • 分类号H01J49/00(20060101);H01J49/40(20060101);H01J49/42(20060101);H01T19/04(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人秦晨

  • 地址 美国印第安纳

  • 入库时间 2023-12-17 16:59:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-20

    专利权的转移 IPC(主分类):H01J49/00 变更前: 变更后: 登记生效日:20140731 申请日:20031202

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-07-22

    授权

    授权

  • 2006-04-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-02-15

    公开

    公开

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