集成电路测试用的自动分类机的定位装置

摘要

一种集成电路测试用的自动分类机的定位装置，本发明的自动分类机的定位装置是于承载板加固元件上安装复数个用来定位自动分类机的第一导梢和复数个用来定位IC元件的第二导梢，并使第一导梢和第二导梢依序自电路承载板和用来固定表面黏著矩阵片(SMM)的SMM框架元件的背面顶出；在测试以球格阵列(BGA)方式封装的IC元件时，应用本发明可以缩短自动分类机的测试臂的工作行程，使得测试的稳定度增加，因而提高测试的良率；更由于测试臂的出力较小而使BGA元件下的焊锡球的受力大幅降低，因此与BGA元件接触的SMM的使用寿命可大幅增加。