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测量粗差的拟准检定法

摘要

本发明公开了测量粗差的拟准检定法,涉及测量及其它实验观测数据的处理技术。本发明是一种辨识、定位并估算观测数据中的粗差的新方法。以观测值的真误差为研究对象,通过附加“拟准观测的真误差的范数极小”的条件,直接求解关于真误差的秩亏方程组;依据真误差估值的分布特征(分群现象),准确定位粗差,然后估算粗差大小并予以修正。设计了分两阶段(初选和复选)有效选取拟准观测的实施方案。本发明的突出优点是:①辨识粗差准确性高;②能同时定位多个粗差。粗差越多,计算快捷的效果越明显。

著录项

  • 公开/公告号CN1244654A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2000-02-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院测量与地球物理研究所;

    申请/专利号CN98113664.8

  • 发明设计人 欧吉坤;

    申请日1998-08-10

  • 分类号G01C5/00;G01C9/00;

  • 代理机构中国科学院武汉专利事务所;

  • 代理人黄瑞棠

  • 地址 430077 湖北省武汉市武昌徐东路54号

  • 入库时间 2023-12-17 13:33:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-10-18

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2001-06-06

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-02-16

    公开

    公开

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