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坏例识别及其模型优化方法、装置及计算机存储介质

摘要

一种坏例识别及其模型优化方法、装置及计算机存储介质,所述方法包括利用具有相同识别能力的待优化识别模型和参考识别模型针对待识别样本分别进行识别,获得待优化识别模型的第一识别结果和参考识别模型的第二识别结果;利用多策略叠加模型中的至少二坏例分析策略分别基于第二识别结果分析第一识别结果,获得各坏例分析策略对应的各中间分析结果,并根据各中间分析结果获得待优化识别模型识别的待识别样本是否为坏例的坏例识别结果,借此,本申请可以提高坏例识别的准确度,以利于模型的优化处理,从而提高模型识别的正确率。

著录项

  • 公开/公告号CN111582193A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京世纪好未来教育科技有限公司;

    申请/专利号CN202010394801.6

  • 发明设计人 赵明;关连正;

    申请日2020-05-09

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06F40/30(20200101);

  • 代理机构11545 北京合智同创知识产权代理有限公司;

  • 代理人李杰

  • 地址 100086 北京市海淀区中关村大街32号蓝天和盛大厦1702-03室

  • 入库时间 2023-12-17 11:49:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    公开

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