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公开/公告号CN111581860A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 西安电子科技大学;
申请/专利号CN202010282754.6
发明设计人 陈晓龙;孙佳;杨凯;柳志敏;
申请日2020-04-12
分类号G06F30/23(20200101);G06T17/20(20060101);G01Q60/00(20100101);
代理机构61227 西安长和专利代理有限公司;
代理人何畏
地址 710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
入库时间 2023-12-17 11:45:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-25
公开
机译: 分析微波近场探头的空间分辨率和微波显微镜配备系统的方法和系统
机译: 基于音叉的近场探针,用于光谱测量,近场显微镜使用相同的光谱分析方法,基于近场显微镜的光谱分析方法
机译: 用于光谱测量的基于音叉的近场探针,使用该探针的近场显微镜以及使用近场显微镜的光谱分析方法
机译:通过使用具有AFM探针尖端的近场扫描微波显微镜对硬盘磁域进行纳米空间分辨率成像
机译:带有AFM悬臂探针的近场扫描微波显微镜直接对纳米空间磁畴成像
机译:近场扫描微波显微镜中倾斜校正的空间分辨率的改进
机译:局部微波测量使用AFM兼容的扫描近场微波显微镜悬臂,具有超高高同轴探针
机译:定量材料与新型近场扫描微波显微镜在高空间分辨率下形成对比。
机译:超高分辨率扫描微波阻抗莫尔格子和上层建筑的微波阻抗显微镜
机译:近场扫描微波显微镜倾斜校正的空间分辨率的提高
机译:扫描近场微波显微镜测量中无参数薄膜介电常数的提取