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色度计匹配方法、色度计、色度计校正方法及系统

摘要

本发明提供了一种色度计匹配方法、色度计、色度计校正方法及系统,其中,色度计匹配方法包括:获取光纤输入端的通光芯径,以基于光纤输入端的通光芯径确定光纤输入端的张角并基于光纤输入端的张角确定透镜的视场角;控制待测区域发射的目标光线以视场角入射至透镜后以张角入射至光纤的输入端,以使目标光线从光纤的输出端射出;控制由光纤的输出端出射的目标光线入射至光谱仪,其中,光纤的输出端的端面轮廓与光谱仪的接收端的狭缝轮廓相匹配。本发明解决了现有技术中色度计的收光能力比较差而导致涉及测量效率比较低的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111504465A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精测半导体技术有限公司;

    申请/专利号CN202010319621.1

  • 发明设计人 马骏;杨康;

    申请日2020-04-22

  • 分类号G01J3/50(20060101);

  • 代理机构32351 苏州友佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈德霞

  • 地址 201700 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层

  • 入库时间 2023-12-17 11:36:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    公开

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