首页> 中国专利> 用于几何特征和像差校正的相控阵列校准

用于几何特征和像差校正的相控阵列校准

摘要

用于校准具有多个换能器元件的超声换能器的几何特征的各种方法包括:提供声反射器,所述声反射器跨越从所有(或至少一些)换能器元件传输到聚焦区的超声波的多个波束路径穿过的区域;使换能器元件将超声波传输到聚焦区;测量超声波离开声反射器的反射;以及至少部分地基于测量的反射,确定与换能器元件相关联的最佳几何特征参数。

著录项

  • 公开/公告号CN111565642A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 医视特有限公司;

    申请/专利号CN201880085848.5

  • 发明设计人 O·普鲁斯;约阿夫·利维;

    申请日2018-10-31

  • 分类号A61B8/00(20060101);

  • 代理机构32273 南京苏创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人常晓慧

  • 地址 以色列提拉特卡尔迈勒市

  • 入库时间 2023-12-17 11:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号