首页> 中国专利> 基板翘曲度检测监控设备及检测监控方法

基板翘曲度检测监控设备及检测监控方法

摘要

本申请公开一种基板翘曲度检测监控设备及检测监控方法,所述基板翘曲度检测监控设备包括:放置待检测基板的载台;与所述载台垂直设置的检测装置;控制所述检测装置位移的控制系统;对所述检测装置的检测数据进行分析的工程数据分析系统;以及,根据设定的对所述基板的品质进行监控的监控需求自动从所述工程数据分析系统载入数据的统计制程管控系统;其中,所述基板上设置有至少两个测量点位,所述检测装置对应每个所述测量点位进行量测,并将测量结果上传至所述工程数据分析系统得到所述基板的翘曲度信息,便于所述统计制程管控系统根据设定的需求对所述基板的品质进行监控,以实现对基板翘曲度的自动检测和实时监控,节省成本。

著录项

  • 公开/公告号CN111457852A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TCL华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN202010268128.1

  • 发明设计人 林晓丹;

    申请日2020-04-08

  • 分类号

  • 代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司;

  • 代理人何辉

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

  • 入库时间 2023-12-17 11:15:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/16 申请日:20200408

    实质审查的生效

  • 2020-07-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号