首页> 中国专利> 一种基于高精度几何基元提取的圆弧工件匹配与定位方法

一种基于高精度几何基元提取的圆弧工件匹配与定位方法

摘要

本发明公开了一种基于高精度几何基元提取的圆弧工件匹配与定位方法,属于机器视觉目标匹配与定位研究领域。本发明解决了在多目标、部分遮挡、平移、旋转等复杂条件下,对工件目标实现准确匹配和精确定位问题。在离线阶段,首先对图像进行边缘检测和轮廓跟踪,采用多边形逼近分割轮廓点,利用最小二乘法拟合初始几何基元参数,基于线扩散函数模型对轮廓点进行精确定位,从而获得高精度几何基元,计算模板的方向角度和基元间的距离参数;然后在在线阶段,根据获取的高精度几何基元参数,选取半径最长的圆弧基元实现工件的粗定位,再利用剩余几何基元的基元角度及基元间距离完成工件的准确匹配和精确定位。

著录项

  • 公开/公告号CN111311618A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长春工业大学;

    申请/专利号CN201811507703.8

  • 申请日2018-12-11

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 130012 吉林省长春市朝阳区延安大街2055号长春工业大学电气与电子工程学院

  • 入库时间 2023-12-17 10:20:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号