一种稀疏两相流中颗粒局部结构的测量方法

摘要

本发明涉及一种稀疏两相流中颗粒局部结构的测量方法，包括：获取流化颗粒图像；对背景去噪和二值化处理后的流化颗粒图像进行特征提取和筛选，得到每一个颗粒上白色光点的像素值；对每一个颗粒进行定位，确定每一个颗粒在直角坐标系下的坐标值；根据每一个颗粒的坐标值，构建对应的颗粒系统的Voronoi图，并计算每一个颗粒的局部体积分数；构建包含七个拓扑结构的接触模型；确定每一个颗粒的键取向序参数Q