一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法，包括：S1、获取GIS设备图像；S2、对所述图像进行图像灰度化处理，获得灰度图像；S3、对所述灰度图像进行图像二值化处理，获得二值化图像；S4、对所述二值化图像进行去噪处理，获得去噪图像；S5、对所述去噪图像进行信息增强处理，获得增强图像；S6、对所述增强图像进行图像分割，提取出目标图像；S7、对所述目标图像进行特征提取，获得特征向量；S8、采用多类分类器，将所述特征向量作为输入，对所述特征向量进行识别。本发明将图像识别技术应用于GIS设备的缺陷检测中，代替巡检人员判别GIS设备是否存在缺陷，可以提高检测速度和准确率。