基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法

摘要

本发明涉及一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，属于光电探测技术领域，通过建立角位置速度双环伺服闭环控制系统，设置指令输入为正弦信号，统计伺服控制系统角位置跟随误差，快速测试伺服控制性能，此方法不用专用测试设备。本发明主要解决了如何用一种快速有效的测试方法来完成光电探测设备伺服控制系统性能测试问题。