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一种基于口面场的相控阵天线单元幅相配平方法及装置

摘要

本申请公开了一种基于口面场的相控阵天线单元幅相配平方法,包括如下步骤。第一步:移动测试探头和/或待测的相控阵天线,对固定口径进行近场扫描测试。第二步:计算出待测天线口径面的幅度、相位数据。第三步:计算出待测天线各单元口径面的幅度、相位结果,并得到单元幅相配平表。第四步:将单元幅相配平表写入相控阵天线,判断相控阵天线单元幅相配平是否完成;如果已完成,则整个方法结束,得到最终的单元幅相配平表;如果未完成,则重复第一步至第四步,将新的单元幅相配平表写入相控阵天线覆盖之前写入的单元幅相配平表,如此重复直至相控阵天线单元幅相配平完成。本申请可缩短相控阵天线单元幅相配平工作的测试时间、提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111044802A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201911229088.3

  • 发明设计人 周建华;张捷俊;毛小莲;

    申请日2019-12-04

  • 分类号

  • 代理机构上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人殷晓雪

  • 地址 201203 上海市浦东新区郭守敬路498号16号楼102室

  • 入库时间 2023-12-17 07:47:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 申请日:20191204

    实质审查的生效

  • 2020-04-21

    公开

    公开

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