一种利用高光谱成像技术的无损检测方法

摘要

本发明涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种基于高光谱成像技术的无损检测方法。该方法利用高光谱成像系统，解决了单一波段范围内样品涵盖信息不全、模型预测稳定性差的问题，具有无损、实用性强、适合大规模检测的特点。