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形成半导体装置的栅极电极的方法、半导体装置用的栅极电极结构及相符的半导体装置结构

摘要

本发明涉及用于形成半导体装置的栅极电极的方法、半导体装置用的栅极电极结构及相符的半导体装置结构,其中,本揭露提供半导体装置用栅极电极结构的一些态样。在本文的一些描述性具体实施例中,栅极电极结构包含位于半导体衬底的第一主动区上方的第一高k介电层、以及位于所述第一介电层上的第二高k介电层。所述第一高k介电层具有金属物种加入其内,用于调整所述第一高k介电层的功函数。

著录项

  • 公开/公告号CN104078341A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN201410098991.1

  • 申请日2014-03-17

  • 分类号H01L21/28;H01L29/423;H01L29/51;H01L29/78;

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2023-12-17 01:59:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/28 申请公布日:20141001 申请日:20140317

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-10-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/28 申请日:20140317

    实质审查的生效

  • 2014-10-01

    公开

    公开

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