电离辐射用直接检测器和制造这种检测器的方法

摘要

本发明涉及用作电离辐射用本征直接检测器的有机半导体和用于制造这种电离辐射用本征直接检测器的方法，所述电离辐射例如为X和γ射线、中子和带电粒子（α射线、电子、正电子等）。本发明还涉及具有基于或以某种方式并入上述检测器的检测器的仪器或复杂装置。