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一种有机纯物质中痕量杂质分析装置及分析方法

摘要

本发明公开了一种有机纯物质中痕量杂质分析装置及分析方法。所述装置包括:液相色谱仪、切割阀、基于等离子体的电离源和质谱仪,所述基于等离子体的电离源包括雾化器和电晕放电针;液相色谱仪依次连接切割阀、雾化器、电晕放电针和质谱仪。所述方法包括:样品送入液相色谱仪,依次通过切割阀、基于等离子体的电离源,样品中的杂质被离子化,送入质谱仪分析。本发明采用基于等离子体的化学电离源不仅能够电离极性和弱极性的杂质分子,同时可电离非极性的分子;将主成分切割后的杂质离子进入质谱仪后可进行相应的质量分析,从而获得杂质分子的定性信息。

著录项

  • 公开/公告号CN103149283A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN201310036515.2

  • 申请日2013-01-30

  • 分类号G01N30/02;

  • 代理机构北京思创毕升专利事务所;

  • 代理人赵宇

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2024-02-19 19:06:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N30/02 申请公布日:20130612 申请日:20130130

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N30/02 申请日:20130130

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

    公开

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