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多通道晶体振荡器频率-温度特性的高速采集系统及方法

摘要

本发明公开了一种多通道晶体振荡器频率‑温度特性的高速采集系统。它包括工控电脑,并行数据采集单元,频率测量控制单元,温度控制单元,测试工位,和外置稳压源;所述温度控制单元内设置多个测试工位;所述频率测量控制单元通过测试工位连接线与所述测试工位对应连接;所述频率测量控制单元通过网线集成到并行数据采集单元上;所述测试工位与外置稳压源通过软性电源线连接;所述温度控制单元与所述工控电脑通过通信信号连接;所述工控电脑通过网线与并行数据采集单元连接。本发明具有能精确表征晶体振荡器实时工作的频率‑温度特性的优点。本发明还公开了多通道晶体振荡器频率‑温度特性的高速采集系统的采集方法。

著录项

  • 公开/公告号CN110376459A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉海创电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201910602161.0

  • 申请日2019-07-05

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R23/02(20060101);

  • 代理机构42001 武汉宇晨专利事务所;

  • 代理人王敏锋

  • 地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区茅店山东路6号

  • 入库时间 2024-02-19 14:44:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20190705

    实质审查的生效

  • 2019-10-25

    公开

    公开

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