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一种基于正交指数局保投影的高光谱图像特征提取方法

摘要

本发明公开了一种基于正交指数局保投影的高光谱图像特征提取方法。本发明如下:一、将被提取高光谱数据集分为拟定样本集和扩展样本集。二、根据训练样本集构建k近邻域图。三、分别构建类内权重矩阵集合和类间权重矩阵。四、构建目标函数。五、归一化相似度矩阵。六、计算两个归一化相似度矩阵的矩阵指数。七、确认投影矩阵。八、获取正交投影矩阵。九、训练SVM模型,并验证正交投影矩阵是否可靠。十、利用正交投影矩阵将具有高维度的扩展样本集映射到维数为d的低维空间中。将降维后的扩展样本集放入训练好的SVM模型中进行分类识别。本发明引入了矩阵指数来获取更丰富有效的样本信息,有效地解决了“小样本”问题。

著录项

  • 公开/公告号CN110147725A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201910294180.1

  • 发明设计人 祝磊;胡奇峰;王棋林;

    申请日2019-04-12

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄前泽

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2024-02-19 12:54:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/00 申请日:20190412

    实质审查的生效

  • 2019-08-20

    公开

    公开

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