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光学邻近校正(OPC)方法及使用该OPC方法制造掩模的方法

摘要

本发明提供了可以有效控制拐角圆滑的光学邻近校正(OPC),以及使用所述OPC方法执行的掩模制造方法。根据所述OPC方法,通过布局的分解生成内部边缘,并基于所述内部边缘计算内部片段的位移(DISin_frag)和所选中的片段的位移(DISsel)以额外地移位片段,以便在不违反掩模规则检查(MRC)的情况下制造具有最小拐角圆滑的掩模布局。

著录项

  • 公开/公告号CN109932865A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201811100247.5

  • 发明设计人 崔多云;金裕卿;宋允景;

    申请日2018-09-20

  • 分类号G03F1/36(20120101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人曹瑜

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2024-02-19 11:18:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-25

    公开

    公开

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