一种提高后仿真结果准确性的方法及系统

摘要

本发明公开了一种提高后仿真结果准确性的方法及系统，所述方法包括如下步骤：步骤S1，提取出版图中MIM CAP图形的周长与面积，将MIM CAP图形作为矩形利用周长与面积建立方程，根据所建立的方程计算该MIM CAP图形的长与宽；步骤S2，将步骤S1计算获得的宽长值代入电容计算公式，得到与版图上实际多边形的电容值更接近的电容值，通过本发明，可提高后仿真结果的准确性。