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一种高纯氧化铝多晶料中痕量杂质元素的测定方法

摘要

本发明为一种高纯氧化铝多晶料中痕量杂质元素的测定方法。一种高纯氧化铝多晶料中杂质元素的测定方法,包括:(1)将块状高纯氧化铝多晶料试样破碎成多晶颗粒;(2)取多晶颗粒置于两块高纯钽片之间,加压,镶嵌至高纯钽片的表面;(3)将高纯钽片放入GD‑MS样品夹具中,镶嵌有高纯氧化铝多晶料的一面为检测面;(4)离子源抽真空,在脉冲模式下调节放电电压和放电电流;(5)在步骤(4)设定的条件下进行脉冲辉光放电质谱仪分析,采集待测元素的信号强度,计算出待测杂质元素的质量分数。该测定方法,避免了由于氧化铝多晶样品不规则或表面粗糙程度对放电及检测结果的影响,可直接用于高纯度氧化铝多晶料的杂质测定。

著录项

  • 公开/公告号CN109239179A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 新疆众和股份有限公司;

    申请/专利号CN201810981555.7

  • 申请日2018-08-27

  • 分类号

  • 代理机构北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王伟锋

  • 地址 830000 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市高新区喀什东路18号新疆众和股份有限公司技术中心办公室

  • 入库时间 2024-02-19 07:36:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/68 申请日:20180827

    实质审查的生效

  • 2019-01-18

    公开

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