Minority carriers; Carrier lifetime; Transients; Decay; Absorption; Photovoltaic cells; Simulation; Spectroscopy; Electronic circuits; Modeling;
机译:三种瞬态衰减技术同时测量单晶CdTe中的少数载流子寿命
机译:双传感器技术用于表征半导体中的载流子寿命衰减瞬变
机译:双传感器技术用于表征半导体中的载流子寿命衰减瞬变
机译:建模使用瞬态过剩载波衰减的少数载波寿命技术
机译:量子效率和少数载体寿命测量的微波仪表和传感技术
机译:校正:低强度FLIM成像的鲁棒贝叶斯荧光寿命估算,衰减模型选择和仪器响应确定
机译:量子效率和少数载体寿命测量的微波仪表和传感技术