机译:三种瞬态衰减技术同时测量单晶CdTe中的少数载流子寿命
机译:利用微波光导衰减研究球形硅中的少数载流子寿命
机译:延长寿命的4H-SiC外延层的微波光电导衰减和开路电压衰减寿命测量技术的比较
机译:建模使用瞬态过量载波衰减的少数载体寿命技术
机译:量子效率和少数载体寿命测量的微波仪表和传感技术
机译:校正:低强度FLIM成像的鲁棒贝叶斯荧光寿命估算,衰减模型选择和仪器响应确定
机译:量子效率和少数载体寿命测量的微波仪表和传感技术
机译:使用瞬态过剩载波衰减的少数载体寿命技术建模:预印本