Iron Base Alloys; Silicon Alloys; Oxidation; Annealing; Auger Electron Spectroscopy; Comparative Evaluations; Diffusion; Energy-Loss Spectroscopy; Equations; Grain Boundaries; Layers; Monocrystals; Photoelectron Spectroscopy; Polycrystals; Surfaces; Thin Films;
机译:GaP和Si表面的俄歇电子能谱(AES)和电子能量损失能谱(EELS)研究
机译:Si(111)和Si(100)表面上铟覆盖层的电子能量损失谱,低能电子衍射和俄歇电子能谱研究
机译:借助可见光谱,X射线光电子能谱(XPS)和电子能量损失能谱(EELS)分析CoCl_4〜(2-)离子的电子结构
机译:俄歇电子能谱(AES),TEM电子能量损失谱(EELS)在晶片制造中多槽问题的失效分析中的应用
机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:高分辨率电子显微镜电子能损光谱X射线粉衍射和电子对分布函数的非晶二氧化硅纳米结构的微观结构研究
机译:用LEED(低能量电子衍射)和AES(螺旋钻电子谱)从化学吸附到氧化的o / Ni(100)研究
机译:低能电子衍射(LEED),俄歇电子能谱(aEs),热解吸(TD)电子能谱用于化学分析(EsCa)研究。进展摘要,1979年7月至1981年3月