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机译:Zn(x)Cd1-x Te-Si(111)杂化表面的空间形式的多重分形参数化,并估计具有分形结构的表面的能量
A(2)B(6) semiconductor films; thin-layer technology; state of film surfaces; multifractal analysis; surface energy of system;
机译:Zn(x)Cd1-x Te-Si(111)杂化表面的空间形式的多重分形参数化,并估计具有分形结构的表面的能量
机译:Zn_xCd_(1-x)Te-Si(111)杂化表面的空间形式区域的多重分形分析
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