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【24h】

TESTS DE CARTES ELECTRONIQUES: Les systemes de tests sont de moins en moins proprietaires et de plus en plus modulaires

机译:电子卡测试:测试系统的专有性越来越低,模块化程度越来越高

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摘要

Les representants d'entreprises membres du Comite test du Simtec ont debattu de l'activite tests des cartes electroniques dont le premier volet vous a ete presente dans notre numero de septembre. Le second volet traite ici des evolutions des technologies et des equipements de tests qu'ils ont constatees, a savoir que les testeurs in situ restent indispensables, les testeurs a sondes mobiles s'invitent en production, le spectre d'utilisation du test Boundary-Scan s'elargit, les systemes d'inspection optique automatique s'imposent, les equipements a rayons X emergent, et enfin, les testeurs fonctionnels sont de moins en moins proprietaires et deviennent de plus en plus modulaires.
机译:Simtec测试委员会成员公司的代表讨论了电子卡的测试活动,其第一部分已在我们的9月期中向您介绍。第二部分介绍了他们所观察到的技术和测试设备的发展,即现场测试仪仍然必不可少,带有移动探针的测试仪已经投入生产,即边界测试的使用范围。扫描扩展,需要自动光学检查系统,X射线设备应运而生,最后,功能测试仪的专有性越来越低,并且模块化程度越来越高。

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