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机译:通过分析n-MOSFET中的三电平随机电报信号确定横向陷阱位置的定位区域的方法
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机译:在亚微米MOSFET中确定负责随机电报信号的氧化物陷阱的位置的方法
机译:利用随机电报信号方法表征电荷陷阱闪存中氮化物空穴的横向迁移
机译:使用随机电报信号方法研究数据模式对电荷陷阱闪存中氮化物电荷横向迁移的影响
机译:使用随机电报信号进行半导体/栅极介电缺陷的测量,建模和仿真。
机译:纳米级晶体管中的异常随机电报噪声作为氧化物陷阱的两个亚稳态的直接证据
机译:三重态对si中随机电报信号的影响 正的mOsFET