Methods and Devices for Measuring the Reflection Coefficients of Flat Samples at Millimeter, Centimeter, and Decimeter Waves

O. A. Dyakonova; Yu. N. Kazantsev; S. V. Marechek; I. V. Voronin; S. A. Gorbatov

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Methods and Devices for Measuring the Reflection Coefficients of Flat Samples at Millimeter, Centimeter, and Decimeter Waves

机译：在毫米波，厘米和分米波上测量平面样品反射系数的方法和设备

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Methods for measuring the reflection coefficient for flat samples in a free space at millimeter, centimeter, and decimeter waves are described. The efficiency of these methods in measuring real samples of a two-layer structure based on chiral elements is demonstrated. Good agreement between the experimental results obtained by different methods is shown experimentally.

机译：描述了在毫米波，厘米和分米波的自由空间中测量平面样本反射系数的方法。证明了这些方法在测量基于手性元素的两层结构的真实样品中的效率。实验显示了通过不同方法获得的实验结果之间的良好一致性。

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来源
《Instruments and Experimental Techniques》 |2011年第2期|共6页
作者
O. A. Dyakonova; Yu. N. Kazantsev; S. V. Marechek; I. V. Voronin; S. A. Gorbatov;
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正文语种 eng
中图分类仪器、仪表;
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