放射光利用表面X線散乱（SXS）法の固/液界面への応用

摘要

表面X線散乱（Surface X－ray Scattering；SXS）法は，固/液界面の三次元構造を0．01?オーダーという高い空間分解能で，しかも反応が起こっているその場で知ることができる手法である．本稿では，SXS法の原理·測定法について簡単に述べた後に, 固/液界面への応用例として, 最近の結果を紹介する．