放射光利用表面X線散乱（SXS）法の固/液界面への応用

近藤敏啓

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放射光利用表面X線散乱（SXS）法の固/液界面への応用

机译：使用发射光的表面X射线散射（SXS）方法在固/液界面上的应用

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表面X線散乱（Surface X－ray Scattering；SXS）法は，固/液界面の三次元構造を0．01?オーダーという高い空間分解能で，しかも反応が起こっているその場で知ることができる手法である．本稿では，SXS法の原理·測定法について簡単に述べた後に, 固/液界面への応用例として, 最近の結果を紹介する．

机译：表面X射线散射（SXS）方法是一种方法，它使您可以在发生反应的位置了解具有0.01？量级的高空间分辨率的固/液界面的三维结构。是的。在本文中，我们简要介绍了SXS方法的原理和测量方法，然后介绍了最新结果作为固/液界面的应用实例。

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来源
《触媒》 |2011年第3期|共5页
作者
近藤敏啓;
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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 jpn
中图分类物理化学（理论化学）、化学物理学;
关键词

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