机译:X射线衍射图形角度范围对定量分析,微晶尺寸计算和单位细胞参数细化的RIETVELD细化结果的影响
Hebrew Univ Jerusalem Ctr Nanosci &
Nanotechnol Unit Nanoscop Characterizat Edmond J Safra Campus IL-91904 Jerusalem Israel;
powder X-ray diffraction; materials characterization; angular range of XRD patterns; Rietveld refinement; statistical treatment; quality assurance/quality control applications;
机译:X射线衍射图形角度范围对定量分析,微晶尺寸计算和单位细胞参数细化的RIETVELD细化结果的影响
机译:使用RIETVELD改进的SKELP厚度对X70微合金钢沉淀尺寸和形态的影响(定量X射线衍射)
机译:立方MOF [{Ca(H_2O)_6} {CaGd(双氧乙酸)3} 2]·4H_2O的结构。从常规和同步加速器X射线粉末衍射数据的Rietveld精炼与单晶X射线衍射数据的标准精炼获得的结构模型之间的比较
机译:CIGS沉积中的结构演变:采用Rietveld整型精修的X射线衍射分析
机译:Zn(2)TiO(4),MgGa(2)O(4)-Mg(2)GeO(4)尖晶石固溶体和β-Mg(3)Ga(2)GeO的结构,阳离子有序和过渡行为(8),通过Rietveld精修X射线或中子衍射数据和O-17 MAS NMR。
机译:高能X射线衍射数据的Rietveld精细分析揭示了fcc和hcp Ru纳米颗粒中结构参数的尺寸依赖性
机译:通过高能X射线衍射数据的RIETVELD细化分析揭示了FCC和HCP RU纳米粒子结构参数的尺寸依赖性