Topografie mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit messen: Scanning mit Chromatic Focus Line

摘要

Mehrdimensionale Abstandssensoren erlauben hohere Punktedichten sowie Messgeschwindigkeiten als Punktsensoren. Dies geschieht jedoch haufig auf Kosten einer ebenfalls erhohten Messunsicherheit. Der "Chromatic Focus Line" (CFL) -Sensor realisiert die beiden grossen Herausforderungen der Messtechnik gleichzeitig. Mithilfe mehrdimensionaler Abstandssensoren ist es moglich, die gesamte Oberflachengeometrie in einem Teilbereich des Werkstucks mit einer einzigen Messung zu erfassen. Konventionelle Sensoren bieten je nach Messprinzip entweder eine hohe Punktedichte oder eine hohe Messgeschwindigkeit. Werden solche Sensoren mit Koordinatenmessgeraten (KMG) eingesetzt, konnen durch Zusammenfugen mehrerer Messpunktewolken grosse Bereiche mit hoher Punktedichte erfasst werden. Alternativ werden interessierende Bereiche in Werkstuckkoordinaten erfasst und zur Auswertung verknupft.