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机译:一种优化半导体故障分析应用的氙气等离子体聚焦离子梁仪的综合方法
Intel Corp 2501 NW 229th Ave Hillsboro OR 97124 USA;
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Xe plasma; PFIB; FIB; failure analysis; semiconductors; analytical instrumentation;
机译:一种优化半导体故障分析应用的氙气等离子体聚焦离子梁仪的综合方法
机译:专为聚焦离子束应用而设计的电感耦合等离子体源中离子能量扩散的优化
机译:聚焦氖束的纳米加工:半导体电路编辑和故障分析的初步研究
机译:用于破坏性物理分析应用的高电流聚焦离子梁仪
机译:在红外光电器件应用的稀氮化物半导体的分子束外延生长过程中,等离子体种类的影响。
机译:菲涅耳波带片聚焦光束在脉冲回波谐波产生测量的优化传感器设计中的应用
机译:优化高电流氙气等离子体离子束,用于半导体故障分析与发育中的应用