...
机译:用反应磁控溅射生长氧化硅薄膜厚度分布
Univ Nacl Autonoma Mexico Ctr Nanociencias &
Nanotecnol Apartado Postal 14 Ensenada 22800 Baja California Mexico;
Univ Nacl Autonoma Mexico Ctr Nanociencias &
Nanotecnol CONACYT Apartado Postal 14 Ensenada 22800 Baja California Mexico;
Univ Nacl Autonoma Mexico Ctr Nanociencias &
Nanotecnol CONACYT Apartado Postal 14 Ensenada 22800 Baja California Mexico;
Univ Nacl Autonoma Mexico Ctr Nanociencias &
Nanotecnol CONACYT Apartado Postal 14 Ensenada 22800 Baja California Mexico;
Univ Nacl Autonoma Mexico Inst Invest Mat Apartado Postal 70-360 Ciudad De Mexico Mexico;
Univ Nacl Autonoma Mexico Ctr Nanociencias &
Nanotecnol Apartado Postal 14 Ensenada 22800 Baja California Mexico;
plasma emission spectroscopy; SiO2 sputtering yield; Co sputtering simulation; reactive magnetron sputtering;
机译:用反应磁控溅射生长氧化硅薄膜厚度分布
机译:磁控溅射生长的二氧化钒薄膜的厚度调制热切割
机译:直流反应磁控溅射沉积氧化镍薄膜的厚度依赖性
机译:通过反应直流磁控溅射和高功率脉冲磁控溅射在SiO_2上生长的锡薄膜的比较
机译:射频反应磁控溅射在低温下沉积在硅上的压电氮化铝薄膜的声波器件特性
机译:磁控溅射生长的拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜中取决于厚度的传输通道
机译:磁控溅射在单晶硅(100)上的氩气和氧离子衬底上生长的氧化钽薄膜中极化态的起始