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ベイズ超解像におけるSIFTを用いたパラメタ推定手法の提案

机译:贝叶斯超分辨率中基于SIFT的参数估计方法的建议

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摘要

ベイズ超解像における位置ずれパラメタの効率的な推定法を提案する.超解像の手法の一つにTipping & Bishop,Pickupらによるベイズ超解像がある.ベイズ超解像では与えられた複数の低解像度画像間の位置ずれを表すパラメタの推定が不可欠であり,それに要する時間的及び空間的な計算量が問題点の一つとなっている.このため,現状では既存のベイズ超解像は小さいサイズの画像にしか適用できない.本稿ではSIFTを用いて少ない計算時間かつ現実的メモリ消費で位置ずれパラメタを推定するアルゴリズムを提案する.またPickupらによって公開されているベイズ超解像のプログラムに,提案アルゴリズムによって推定したパラメタを入力し,真のパラメタを用いた場合との比較を行った.結果として,ある性質の画像については十分な精度でのパラメタ推定に成功し,比較的大きいサイズの画像に対してベイズ超解像が実現できたことを報告する.
机译:我们提出了一种有效的贝叶斯超分辨率参数估计方法。一种超分辨率方法是Tipping&Bishop,Pickup等人的贝叶斯超分辨率方法。在贝叶斯超分辨率中,估计代表多个给定的低分辨率图像之间的位置偏差的参数是必不可少的,为此所需的时间和空间计算量是问题之一。因此,目前,现有的贝叶斯超分辨率只能应用于小尺寸图像。在本文中,我们提出了一种使用SIFT估计失准参数的算法,该算法具有计算时间短和实际内存消耗少的特点。另外,将所提算法估计的参数输入到Pickup等人发布的贝叶斯超分辨率程序中,并与使用真实参数的情况进行了比较。结果,我们已经成功地估计了具有某种属性的图像的足够准确的参数,并且报告说,对于较大尺寸的图像实现了贝叶斯超分辨率。

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