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【24h】

組合せ論理回路のセルフテスティング性の形式的検証とその並列化

机译:组合逻辑电路的自检特性及其并行化的形式验证

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摘要

本稿では、組合せ論理回路のセルフテスティング性の検証について、二分決定グラフ(BDD)及び拡張二分決定グラフ(XBDD)を用いた論理関数処理による方法を示し、またそれらの並列化手法について提案する。 まず、組合せ論理回路のセルフテスティング性の形式的検証を、回路の入力と出力の符号語の特徴関数を利用した判定関数の充足可能性判定問題に帰着し、それをBDDを用いて解く方法を示す。 次に、より少ない節点拳で論理関数を表現できるXBDDを利用する方法を示し、さらに故障並列などの手法を用いた並列化により高速化をはかり、実際にMPI を用いてワークステーションクラスタに実装して実験した結果により、その有効性を示す。
机译:在本文中,我们展示了一种通过使用二分图(BDD)和扩展二分图(XBDD)进行逻辑功能处理的方法来验证组合逻辑电路的自测试,并提出了一种并行化方法。首先,一种形式验证组合逻辑电路的自测试特性的方法,该方法使用电路的输入和输出代码字的特征函数导致判断函数充分性判断问题,并使用BDD解决该问题。显示。接下来,我将展示如何使用XBDD,它可以用更少的节点拳头表达逻辑功能,并通过使用故障并行化之类的方法并行化来进一步提高速度,并在使用MPI的工作站集群中实际实现它。实验结果表明了其有效性。

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