首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. VLSI設計技術. VLSI Design Technologies >テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法
【24h】

テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法

机译:基于强制分配的测试点插入方法以减少测试数据

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

本研究では,テストポイント挿入によるテストデータ量の削減法を考案する.故障の中には,同じ信号線に異なる値の割当を必要とするため,同一のテストパターンでは検出できない関係にある故障が存在する.これらの故障はテストポイントの挿入によりその必須割当の衝突を解消でき,同じテストパターンで検出可能となる場合がある.本研究ではこの事実に着目し,テストポイント挿入により解消される必須割当の衝突解消度を示す評価尺度とその評価尺度に基づくスキャン設計のためのテストポイント挿入アルゴリズムを提案する.実験により,テストデータ量を最小にする最適なテストポイント数が存在すること,また,従来法の尺度に比べて提案する評価尺度がテストパターン数を削減可能であることを示す.提案するテストポイント挿入法は少ないテストポイントでテストパターン数だけでなくテストデータ量の削減が可能である.
机译:在这项研究中,我们设计了一种通过插入测试点来减少测试数据量的方法。在故障中,有一些故障无法通过相同的测试模式检测到,因为必须将不同的值分配给同一条信号线。通过插入测试点以消除强制分配的冲突,可以通过相同的测试模式来检测这些失败。针对这一事实,本研究提出了一种评估量表,该量表指示了通过测试点插入解决的强制性分配的冲突解决程度,并提出了基于该评估量表的扫描设计测试点插入算法。实验表明,存在最佳的测试点数量,可以最大程度地减少测试数据的数量,并且与常规规模相比,所提出的评估规模可以减少测试模式的数量。提出的测试点插入方法不仅可以减少测试图案的数量,而且可以减少测试点数量少的测试数据的数量。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号