高温超伝導YBCO薄膜の熱伝導率と温度伝導率の測定－周期加熱サーモリフレクタンス法を用いた低温·強磁場環境下測定システムの構築

摘要

本研究では熱伝導率·温度伝導率のレーザーを用いた非接触測定法として周期加熱サーモリフレクタンス法(Photothermal Reflectance Method)を採用し，YBCO薄膜の熱伝導率·温度伝導率の測定を行うことを目的としている． 前報[2]ではフォトサーマル赤外検知法(Photothermal Radiometry: PTR)による常温環境下測定で得られた熱伝導率·温度伝導率の膜厚依存性と原理妥当性について明らかにしたが，本報では材料が使用される実用環境（低温·強磁場環境）下での測定を目指し，理論による測定感度の解析，および測定システムの設計·構築を新たに行ったので報告する．