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机译:二维光电子能谱法分析氧化物半导体/绝缘膜界面的电子结构
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机译:捕获绝缘材料的价带:通过光电子产率谱和角分辨光电子谱评估有机半导体Lubreso单晶的电子结构
机译:通过光电子屈服光谱和角度分辨光电子能谱的有机半导体损伤单晶的电子结构评价:光电子率屈光光谱和角度分辨光电子谱。
机译:通过全反射硬X射线光电子能谱分析非晶氧化物半导体中价带正上方的缺陷深度分布
机译:用电子光谱研究III-VI层半导体的化学键合和异质结中的界面形成
机译:用超薄氧化物对金属/氧化物/半导体(MOS)器件中的氧化物/半导体界面进行光电子能谱研究。