机译:用X射线反射率,ESCA和光学椭偏法测量硅和非晶氢化碳上全氟聚醚聚合物薄膜的厚度
Polymer films; Perfluoropolyether; Thickness; Tribology; Atomic-force microscopy; Ion mass-spectrometry; Vapor density profile; Surface-roughness; Liquid-films; Disks; Conformation; Spectroscopy; Scattering; Interface;
机译:用X射线反射率,ESCA和光学椭偏法测量硅和非晶氢化碳上全氟聚醚聚合物薄膜的厚度
机译:TiO2-SiO2薄膜的密度,厚度和组成的X射线反射法,椭偏仪和电子探针显微分析耦合
机译:通过X射线反射率测量研究异丁烷薄膜在硅上的吸附
机译:利用X射线反射率的傅里叶变换厚度测量薄膜和多层的测量
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:测量非常薄膜的厚度和折射率和椭圆形测量表面的光学性质
机译:用X射线反射率测量薄膜厚度的方法评价