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【24h】

Multiple ionization in quantitative XRF

机译:定量XRF中的多重电离

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摘要

The influence of the neglect of multiple ionizations in quantitative XRF without standards is demonstrated by computer simulation and evaluation of characteristic x-ray signals of binary bulk specimens of Al and Cu. An error of up to 4 wt% can be expected. Copyright (C) 2001 John Wiley gr Sons, Ltd. [References: 11]
机译:通过计算机模拟和评估Al和Cu的二元散装样品的特征X射线信号,可以证明在不使用标准液的定量XRF中忽略多个电离的影响。可以预期高达4 wt%的误差。版权所有(C)2001 John Wiley gr Sons,Ltd. [参考:11]

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