机译:电子探针微分析(EPMA)测量铝片上纳米范围内的氧化铝膜厚度
机译:电子探针微分析(EPMA)测量铝片上纳米范围内的氧化铝膜厚度
机译:通过电子探针微分析(EPMA)校准曲线法测量PUO2膜厚度
机译:Fe-Ni合金膜元素组成和厚度的能量色散电子探针显微分析(ED-EPMA)
机译:用扫描电子显微镜(SEM)和电子探针微分析(EPMA)对元素原位反应产生的粒子尺寸对MOSI2 / TIB2复合材料微观结构的影响。
机译:氧化锶铁/二氧化硅/硅和氧化锶铁/氧化铝薄膜系统的热稳定性:透射电子显微镜研究薄膜系统的界面结构和氧化锶铁/氧化铝的电导传感响应。
机译:原位扫描电子显微镜观察铝合金薄板上蒸汽涂层形成的氢氧化物膜的裂纹萌生和扩展
机译:原位扫描电子显微镜观察铝合金板上蒸汽涂料形成的氢氧化物膜中的裂纹引发和繁殖
机译:用于测量K West Basin燃料元件上氢氧化铝涂层厚度的涡流探头的验收试验