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机译:使用理论影响系数算法的X射线荧光光谱法测定薄膜的厚度和成分
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机译:X射线荧光光谱法测定双层薄膜Cr / V和V / Cr系统中的质量吸收系数
机译:修正中厚样品X射线荧光分析中基质效应的理论影响系数
机译:在X射线荧光分析中使用优化的基本参数计算的理论影响系数
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:高能X射线衍射∕ X射线荧光光谱仪用于成分扩散薄膜的高通量分析
机译:用X射线光谱法测定薄样品的成分和质量厚度的两种计算程序
机译:薄膜X射线荧光光谱法测定痕量元素及其在锆中的应用