NI senkt mit PXI-basierten Testsystemen Kosten fur automatisierte Halbleiterprufsysteme

摘要

National Instruments hat die Produktreihe NI Semi-conductor Test Systems (STS) vorgestellt. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prufkosten fur HF- und Mixed-Signal-Gerate senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prufumgebungen der Halbleiterproduktion ermoglichen. Pionieranwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprufsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem hoheren Durchsatz. So wird weniger Zeit fur die Korrelation von Daten sowie zur anschliessenden Markteinfuhrung benotigt.