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Dépôt de couches minces de NdNiO_3 sur Si (100) par pulvérisation cathodique

机译:通过溅射在Si(100)上沉积NdNiO_3薄层

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摘要

Des couches de NdNiO_3 présentant des transitions métal-isolant ont été déposées par pulvérisation cathodique sur substrats de silicium orienté (100). Les paramètres de dépôts et de recuits ont été optimisés. Nous avons obtenu de manière reproductible des couches transitant à 147K.%NdNiO_3 thin films with metal-insulator transition were deposited by RF sputtering and subsequent annealing under oxygen pressure on silicon (100). The deposition parameters and annealing conditions were optimized. Reproducible Metal-Insulator transition were obtained at 147 K.
机译:通过溅射在取向的硅衬底(100)上沉积具有金属-绝缘体过渡的NdNiO_3层。沉积和退火参数已优化。我们通过RF溅射和随后在氧压力下在硅(100)上进行退火,获得了以147K。NdNiO_3薄膜通过的具有金属-绝缘体转变的可复制层。优化了沉积参数和退火条件。在147 K下获得了可重现的金属-绝缘体转变。

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