机译:电子带弯曲和表面灵敏度:极性GaN表面的X射线光电子能谱
Acad Sci Czech Republ, Inst Phys, Cukrovarnicka 10, Prague 16200, Czech Republic;
Acad Sci Czech Republ, Inst Phys, Cukrovarnicka 10, Prague 16200, Czech Republic;
North Carolina State Univ, Dept Elect & Comp Engn, Raleigh, NC 27606 USA;
Acad Sci Czech Republ, Inst Phys, Cukrovarnicka 10, Prague 16200, Czech Republic;
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Ga面GaN的表面能带弯曲
机译:共价键合芳基层对SysChotron X射线光电子能谱探测的SnO2表面带弯曲和电子密度的影响
机译:X射线光电子能谱分析自由Pb(Zr,Ti)O_3表面的能带弯曲
机译:在铁电表面和X射线光电子光谱研究中弯曲的带弯曲
机译:近环境压力X射线光电子谱的卤化物钙钛表面降解研究
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Al2O3封端的GaN / AlGaN / GaN异质结构的表面极化
机译:通过角度依赖性X射线照相光谱谱精确测定Ga偏极N-GaN膜中的表面带弯曲
机译:通过X射线光电子能谱和极性/分散自由能分析进行石墨纤维表面分析