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Measurement of the Stability Margin of an Immittance Logic Gate

机译:电抗逻辑门的稳定裕度的测量

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摘要

A setup for the measurement of the stability margin of an immittance AND gate is proposed. The feasibility of the measurement method, which is applicable regardless of whether the gate is stable or potentially unstable, is validated.
机译:提出了一种用于测量“与”门的稳定裕度的装置。验证了该测量方法的可行性,无论门是稳定的还是潜在的不稳定,该测量方法均适用。

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