机译:使用扫描声显微镜对微电子封装进行表征
General Engineering Research Institute, Liverpool John Moores University, Byrom Street, Liverpool L3 3AF, UK;
microelectronic package; integrity analysis; sparse representation; scanning acoustic microscopy;
机译:使用扫描声学显微镜进行粘合微电子元件的缺陷分析,延长分辨率和缺陷敏感性
机译:扫描声学GHz显微镜与传统SAM的对比,可对微电子设备中的球键和金属界面进行高级评估
机译:扫描声多普勒显微镜和扫描声相关显微镜
机译:使用C模式扫描声学显微镜进行微电子包装的热机械可靠性评估
机译:横截面扫描透射电子显微镜剥离和表征天然存在的失式硫代硫胺基
机译:通过扫描声学显微镜扫描电子显微镜能量色散X射线光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法检查枪声中的金属动员:病例报告
机译:通过扫描声学显微镜,扫描电子显微镜,能量分散X射线光谱和电感耦合等离子体光发射光谱来检查从枪管的金属摩托的检查:案例报告