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机译:用于极紫外光刻的反射型衰减相移掩模的高反射率,在深紫外条件下具有较高的检查对比度
Department and Institute of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei, Taiwan, Republic of China;
机译:宽带紫外线照射下光化检查表征极端紫外线光刻掩模缺陷
机译:使用法布里-珀罗型抗反射涂层的增强型极端紫外线光刻掩模检查的对比度
机译:掩模引起的深紫外和极紫外光刻中的最佳焦点转移
机译:通过使用Fabry-Perot型抗反射涂料增强Extreme UltraViolet光刻掩模检查的对比度
机译:强烈的毛细管放电等离子体极紫外光源,用于极紫外光刻和其他极紫外成像应用。
机译:迈向极紫外光刻的高精度反射计
机译:B4C覆盖层对极端紫外线掩模的影响对使用投影电子显微镜图案化掩模检查的灵敏度